山金工业 Otsuka大塚电子 相位差测量安设 RETS-100nx New

居品规格

测量名堂（薄膜、光学材料）

相位差（波长散播）、慢轴、RTH*1、3次元折射率*1等

测量名堂（偏光片）

给与轴、偏光度、消光比、多样色度、多样透过率等

测量名堂（液晶cell）

cell gap、预倾角*1 、曲解角、配向角等

伸开剩余59%

位进出测量边界

0～60，000nm

相位差肖似性

3σ≦0.08nm（水晶波长板 约600nm）

cell gap 测量边界

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0～600μm（Δn=0.1时）

cell gap 肖似性

3σ≦0.005μm（cell gap 约3μｍ、Δｎ＝0.1时）

轴检测肖似性

3σ≦0.08°（水晶波长板 约600nm）

测量波长边界

400～800nm（其他可选）

检测器

多通谈光谱仪

测量径

φ2㎜(花式规格)

光源

100W　halogen lamp

数据惩处部

个计较机、表现器

样品台尺寸:花式

100㎜×100㎜（固定样品台）

option

·超高相位差测量

·多层测量

·轴角度补正功能

· 自动XY样品台·自动歪斜旋转样品台

*1：必须配备自动歪斜旋转样品台2026世界杯(中国)2026世界杯(中国)。（option）

发布于：广东省